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专利名称：一种检测方法、检测装置及终端设备专利类型：发明专利发明人：何怀亮
申请号：CN201910023846.X申请日：20190110公开号：CN109741324A公开日：20190510
摘要：本申请适用于材料制作技术领域，提供了一种检测方法、检测装置及终端设备，包括：对待检测的面板进行扫描，确定所述待检测的面板中是否存在缺陷；若存在缺陷，获取所述缺陷对应的目标区域，所述目标区域为所述缺陷的最小外接矩形所占的区域；根据所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，确定所述缺陷是否为第一类缺陷，所述第一类缺陷为误判缺陷；若所述缺陷为第一类缺陷，则将该缺陷标记为正常；若所述缺陷不是第一类缺陷，则基于所述缺陷在所述面板上的位置，确定所述缺陷是否为第二类缺陷，所述第二类缺陷为对所述面板进行切割磨边引起的缺陷。通过上述方法，大大提高了对颗粒状缺陷检测的正确率。
申请人：惠科股份有限公司
地址：518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园厂房1、2、3栋,九州阳光1号厂房5、7楼
国籍：CN
代理机构：深圳中一专利商标事务所
代理人：高星
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