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专利名称：确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法专利类型：发明专利
发明人：王群勇,陈冬梅,阳辉,白桦,陈宇,钟征宇申请号：CN201210483971.7申请日：20121123公开号：CN1038345A公开日：20140604
摘要：本发明提供一种确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法，该方法包括：通过试验获取多个样本器件的辐射失效水平，并计算辐射失效水平的对数ln(R)、对数平均值和标准差建立以样本数n、置信度c和生存概率p的单边置信区间K(c，n，p)，并获取单边置信区间值；根据式子计算器件分类判据值；PCC为器件分类判据值，即为辐射敏感器件抗辐射性能指标。本发明提供的方法对器件辐射响应不一致导致的评估不确定性进行更为精确的评价，并为型号任务的顺利完成提供保障。
申请人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
地址：1000 北京市海淀区紫竹院路69号中国兵器708
国籍：CN
代理机构：北京路浩知识产权代理有限公司
代理人：王莹
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