一种测量X射线能量的装置及方法

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201911197922.5 （22）申请日 2019.11.29

（71）申请人 中国科学院物理研究所

地址 100190 北京市海淀区中关村南三街8号

（10）申请公布号 CN110794448A

（43）申请公布日 2020.02.14

（72）发明人 朱常青;王进光;冯杰;何雨航;陈黎明

（74）专利代理机构 北京市英智伟诚知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人 刘丹妮

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

一种测量X射线能量的装置及方法

（57）摘要

本发明提供了一种利用金属滤片测量X射

线能量的装置及方法。本发明提供的方法采用模块化的设计方案，非常有利于拆卸和组装，可以很方便地用来测量X射线能量。利用不同种类和厚度滤片的组合方式，既能实现对0～90keV能段内X射线光子数的精确测量，又能对大能量范围0～300keV内的X射线进行较为精确地计算。

法律状态

法律状态公告日

2020-02-14 2020-02-14 2020-03-10

公开 公开

法律状态信息

公开 公开

法律状态

实质审查的生效 实质审查的生效

权利要求说明书

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说明书

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